Tm~(3+)掺杂的LaOF和SiO_2纳米体系中荧光光谱温度特性的研究

编号：NMJS01034

篇名：Tm~(3+)掺杂的LaOF和SiO_2纳米体系中荧光光谱温度特性的研究

作者：张喜生; 晏春愉; 姚陈忠; 郑海荣;

关键词：材料; 晶相; 荧光光谱; 温度特性; Tm3 离子; 荧光衰减;

机构： 运城学院物理与电子工程系; 陕西师范大学物理与信息技术学院;

摘要： 研究了不同环境温度下晶体LaOF和非晶体SiO2纳米体系中掺杂Tm3+离子的荧光光谱。结果表明,在20~300 K的温度范围内,荧光谱线的宽度、强度以及谱线位置均随温度的升高而变化。发光离子的局域环境直接影响荧光光谱对环境温度的依赖程度:SiO2中发光离子的荧光寿命受温度影响较小,而位于晶相环境LaOF中离子的荧光寿命则显示较强的温度依赖特性,在脉冲激光激发条件下,研究了3H4能级荧光寿命随温度变化的规律。