欢迎访问中国纳米行业门户!【登陆】【免费注册】010-82930964 微博 微信     粉享通 | 广告服务 | 中国粉体网
纳米网首页 > 技术资料

NIST研究提高纳米粒子安全性评估的新方法

编号:NMJS02053

篇名:NIST研究提高纳米粒子安全性评估的新方法

作者:何芳;

关键词:纳米粒子; 新方法; 技术研究; 细胞培养; 美国国家标准; 安全性评估; 内细胞; 科学家; 释放; 俘获;

机构:

摘要: <正>目前,美国国家标准技术研究院(NIST)的专家研究出一种方法—"俘获和释放"程序来控制纳米粒子。该方法是采用微弱的电流来影响纳米粒子的性能,使得科学家可以对暴露的纳米粒子进行细胞培养,并观察其细胞如何反应,这样可以获得细胞


最新技术资料:
· 纳米镍颗粒改性钛合金微弧氧化膜的摩擦性能 2024.11.21
· 电流密度对发动机轴瓦喷射电沉积镍-纳米氧化铝复合镀层的影响 2024.11.14
· 电化学置换反应制备石墨烯基纳米无定型锑复合阳极用于高性能钠离子电容器的构筑 2024.11.13
· 基于分子动力学的钠离子与纳米二氧化硅表面的相互作用过程模拟 2024.11.13
· Cu掺杂WN松枝状自支撑纳米阵列的制备及其碱性析氢性能的研究 2024.11.12
· La3+取代的纳米尺寸砷钨氧簇的合成、晶体结构及光催化性质研究 2024.11.08
图片新闻

正式开业!六边形纳米加速单壁碳纳米管国产

聚焦半导体检测分析,胜科纳米即将迎来科创

【展商推荐】淄博纳米特精细陶瓷有限公司邀

【展商推荐】长沙西丽纳米研磨科技有限公司

最新资讯