基于SEM图像的碳纳米管薄膜均匀性表征方法研究

编号：FTJS06738

篇名：基于SEM图像的碳纳米管薄膜均匀性表征方法研究

作者：陈彦海 ;张大国 ;聂鹏

关键词：喷射吸滤 碳纳米管薄膜 SEM图像 多重分形谱 均匀性

机构： 沈阳航空航天大学机电工程学院,辽宁沈阳110136

摘要： 将多壁碳纳米管综合了超声处理和高速离心等分散工艺单分散后,采用喷射吸滤法制备碳纳米管薄膜,并研究超声时间对薄膜分布均匀性的影响。基于多重分形理论和SEM图像分析多壁碳纳米管薄膜的形态学特征。碳纳米管薄膜的分布均匀性主要取决于多重分形谱宽度Δa和最大、最小概率子集维数的差别Δf等分形参数。多重分形分析弥补了传统的表面评价和统计分析的不足。该碳纳米管薄膜均匀性表征方法将为碳纳米管薄膜的制备提供指导。