Au纳米耦合结构表面等离激元的EELS分析

编号：NMJS05784

篇名：Au纳米耦合结构表面等离激元的EELS分析

作者：张奚宁[1] ;童利民[2] ;蒲继雄[1]

关键词：纳米结构 耦合结构 Au 电子能量损失谱 表面等离激元

机构： [1]华侨大学信息科学与工程学院,福建厦门361021; [2]浙江大学光电科学与工程学院,浙江杭州310027

摘要： 应用透射电子显微镜中电子能量损失谱仪（TEM-EELS）,对电子束激发的单晶Au纳米线耦合结构及单晶/多晶纳米薄膜的表面等离激元（SPs）特征进行分析.结果表明：直径约为10nm的两单晶Au纳米线平行耦合时,单根纳米线和耦合结构中均存在位于2.4eV的SPs共振,耦合结构中SPs的纵模数增加;单晶及多晶Au纳米薄膜在1.4eV附近存在SPs模式,相较于单晶薄膜,多晶Au纳米薄膜的SPs共振峰位出现明显红移.