纳米晶体金刚石涂层／抛光坐标测量机（CMM）测量探争可降低磨损和提高尺寸精度

编号：NMJS05589

篇名：纳米晶体金刚石涂层／抛光坐标测量机（CMM）测量探争可降低磨损和提高尺寸精度

作者：张贝贝[1]

关键词：金刚石涂层工具 坐标测量机 纳米晶体 尺寸精度 磨损 抛光 特种氧化铝 特种材料

机构： [1]迈耶尔什金刚石制品解决方案公司 荷兰

摘要： 航空航天等工业领域开始越来越多地使用特种材料，如加强碳、复合陶瓷和特种氧化铝等。尽管已经可以使用金刚石涂层工具加工这些新材料，但在生产和最终控制阶段都要对这些新材料进行测量。现有的CMM测量探测器主要使用红宝石和硬质合金，用现有标准扫描测量方法的话，磨损太快，探针每3天需要更换，生产会被迫中断，需要等待探针重新校准。荷兰金刚石制品解决方案公司开发的一种纳米晶体金刚石涂层抛光的测量探头，可最小化这些缺点（图片1）。现在，它们被用在条件非常严苛的环境下，像被用来测量复合陶瓷、磨削后的球轴承、硬化锥齿轮、微晶玻璃、镍涂层铝镜面和其他特种材料等。