[编者按]工艺技术的进步对测量意味着什么？挑战！新材料、新器件和结构促使测量技术不断发展，从而满足各种新现象的出现。郭光灿领导的研究组首次利用量子统计测量技术，实现精准测量，精度达纳米级，使测量技术跃上了一个新台阶。
　　
    据悉，郭光灿院士领导的中科院量子信息重点实验室孙方稳研究组，日前在国际上首次利用量子统计测量技术，实现不受传统光学散射极限限制的相邻发光物体的测量与分辨，其精度可达纳米量级。研究成果发表在4月9日的《物理评论快报》上。

　　提高测量精度一直是科学研究的主要课题。在众多新型测量技术中，量子测量方法最具吸引力。量子测量既能实现超越经典测量极限的高精度测量，又能实现经典方式无法完成的各种测量。如利用传统光学测量相近的两个物体距离，精度在数百个纳米。孙方稳研究组利用物体发光的量子统计属性，实现了不受经典光学散射极限的量子统计测量技术，精度可达纳米量级。

　　孙方稳表示，量子测量技术除适用于相邻物体的光学成像，还可实现发光寿命、偏振和其他自由度的测量与分辨。该测量技术还可实时测量近邻物体的动力学演化以及它们之间的相互作用，为实现进一步的量子信息技术提供了一种新的测量技术，并将在化学、材料、生物等领域得到应用。