水含量对PI/SiO2纳米杂化薄膜微观结构的影响

编号：NMJS02921

篇名：水含量对PI/SiO2纳米杂化薄膜微观结构的影响

作者：牛颖； 张明艳；

关键词：聚酰亚胺； 二氧化硅； 纳米杂化； 水含量； 微观形貌；

机构： 大庆医学高等专科学校化学教研室； 哈尔滨理工大学材料科学与工程学院；

摘要： 用溶胶-凝胶法合成了聚酰亚胺/二氧化硅(PI/SiO2)纳米杂化薄膜,并采用傅立叶变换红外光谱(FT-IR)和扫描电子显微镜(SEM)分析水含量对PI/SiO2杂化薄膜的化学结构和微观结构的影响。结果表明:水含量对PI/SiO2微观结构影响很大。当SiO2与水含量摩尔比为1∶6时,SiO2能均匀分散在PI基质中,团聚的SiO2粒径均小于20 nm。当SiO2与水含量摩尔比为1∶8时,部分团聚的SiO2粒径超过100 nm。