利用下端腐蚀法制备纳米级STM探针

编号：NMJS02082

篇名：利用下端腐蚀法制备纳米级STM探针

作者：崔庆国； 张露； 谢佳乐； 杨秀凡； 王俊忠；

关键词：扫描隧道显微镜； 电化学腐蚀； 液膜法； 自动切断电路； STM探针制备；

机构： 西南大学物理科学与技术学院；

摘要： 在深入分析电化学腐蚀原理的基础上,发现了一种提高针尖的尖锐程度的新方法,即:利用下端腐蚀方法得到了比传统的上端腐蚀方法更尖锐的针尖.通过对腐蚀电压、腐蚀溶液浓度、切断时间的研究和分析,总结出下端腐蚀法制备纳米级STM探针的最佳综合条件;并通过对前人方案的修改和完善,研制了一套自动控制切断电路装置,该电路装置可以任意设置切断条件,以此得到不同粗细的针尖;最后将据此制作的纳米级针尖成功地应用于Unisoku-STM仪器的扫描,得到了清晰、稳定的原子级分辨Bi(0001)图像.