塑料薄膜基上镀纳米SiOx涂层的表征及性能研究

编号：NMJS00292

篇名：塑料薄膜基上镀纳米SiOx涂层的表征及性能研究

作者：张改梅; 陈强; 何存富; 朱惠钦;

关键词：SiOx薄膜; 阻隔性; 超声原子力显微镜; 表征;

机构： 北京印刷学院印刷与包装工程学院; 北京工业大学;

摘要： 本文利用等离子体气相化学沉积(PECVD)的方法,在聚对苯二甲酸乙二醇酯(PET)和双向拉伸聚丙烯(BOPP)薄膜上制备了纳米厚度的SiOx涂层。使用傅里叶变换红外光谱(FTIR)、原子力显微镜(AFM)和超声原子力显微镜(UAFM)对纳米厚度的SiOx薄膜进行表征。利用AFM和UAFM,可以得到SiOx薄膜的形貌和超声幅值成像。尤其是本文使用的新方法UAFM,可以表征表面和次表面缺陷。同时,本文实验研究了,镀SiOx的PET和BOPP薄膜的拉伸性能、接触角和阻隔性。结果表明,SiOx涂层提高了塑料薄膜的阻隔性、拉伸性能。