在中科院固体物理所实验室里叶长辉博士介绍说， “我们整个实验室致力于纳米空间的物理、化学基本现象和理论及实用化技术的研究，包括低维纳米材料及有序阵列的关键制备技术及性能调控（特别是光学性能），纳米材料在药物和环保中的应用等。”

　　在一间房间里，我们看到一个体形庞大的仪器平躺在一个桌面上，灰白色，整整占了实验室1/4的空间。

　　“这是荧光光谱仪，用来测量光学性能，即用一束光激发样品材料，看它发出的光处于什么波段。”叶博士说，“这台仪器从英国进口，价值100多万。”接着，他指着一个不大的圆柱状筒罐介绍道，“这里边盛放着液氮，用来测量低温下材料的光学性能。”

　　这台仪器与传统仪器有一个重要的区别。叶博士说，一般的仪器只能测量可见光，而这台仪器可以从紫外波段测量到红外波段，当然也包括位于红外，紫外之间的可见光，这样，它的测量范围就比传统仪器大很多。

　　测量波长的目的是为了研究材料的光学性能。有些荧光显示材料，如街道上的广告牌，一到晚上就特别明亮，很多人以为它们用的是电能，其实不然，它们白天吸收并存储太阳能，晚上就利用这些能量发光。此仪器可以测量这些荧光材料的衰减寿命，研究它们发光过程中的能量变化情况。

　　叶博士说介绍说，这台仪器另外一个先进之处是，它测量的结果完全数据化。以前的仪器，测量结果只能打印出一张或几张图，然后靠人工把图扫描进电脑进行处理，而这台仪器可以把测量得到的曲线图谱直接存储进电脑，工作人员可以在电脑中进行研究。

　　在另一个房间里，叶博士指着一台顶部高高耸立的一个灰白色镜筒的仪器说：“这是椭圆偏振仪，主要用来测量一些薄膜的物理参数，如膜的厚度，折射率、介电常数等。当然，测量前需要把一些材料做成薄膜。”他说，“所测薄膜要很平整，不能起伏太大，如果一个薄膜凹凸不平，测量结果就不准确。”

　　据叶博士介绍，一张膜质量的好坏，与膜的厚度、折射率密切相关。薄膜的厚度有的时候只有几百或几十纳米，肉眼是看不见的，只能通过仪器检测。

　　薄膜用途很广，现在电子芯片就需要非常薄的膜，因为膜越薄，越能节省空间，这样做出的芯片体积就越小。

　　仪器左边有个显示器，可以显示样品表面是否平整，如果不平整，比较粗糙，实验人员可以选择样品的其它部位进行测量。仪器后边是个主机，用来处理各种数据。主光学台上那个空悬的镜筒，是实验人员用来对薄膜进行观测的。

　　叶博士说，近两年来，实验室在各个方面都取得长足进展，发表SCI论文100多篇，争取国家“863”、自然科学基金项目10项，两年来累计争取经费1490多万元，购置大型设备4台，研制设备10多台，成功建立了纳米材料制备、表征的研究平台。