微波酸碱处理微纳米碳化硅粉体杂质去除工艺研究

编号：NMJS05677

篇名：微波酸碱处理微纳米碳化硅粉体杂质去除工艺研究

作者：铁健 ;铁生年

关键词：微纳米碳化硅粉体 提纯 微波酸碱处理

机构： 青海大学新能源光伏产业研究中心,西宁810016

摘要： 利用微波消解技术和酸碱化学介质对微纳米碳化硅粉体中Fe2O3,Si,SiO2去除工艺进行了研究。正交试验结果表明：微波功率4 kW,微波频率2450 MHz时,反应温度90℃,盐酸浓度3 mol·L^-1,反应时间10 min,液固比4∶1,Fe2O3去除率达到97.4%;反应温度90℃,氢氧化钠浓度180 g·L^-1,反应时间10 min,液固比3∶1,Si的去除率达到97.31%,SiO2达到97.26%;除杂后SiC粉体的纯度达到98.1%;通过碳化硅粉体形貌分析,除杂后SiC粉体表面附着物质明显减少,较除杂前更加光滑。